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廣州超聲波探傷儀探頭種類
日期：2025-12-10 09:00
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摘要：
超聲波探傷儀探測頭種類繁多，日常使用中常見的探測頭種類有以下幾種：
A.超聲波探傷儀直探測頭
進行垂直探傷用的單晶片探測頭，主要用在縱波探傷。直探測頭由插座、外殼、保護膜、壓電晶片、吸聲材料等組成，頭接觸面為可更換的軟膜，用在檢查表層粗糙的部件。
B.超聲波探傷儀斜探測頭
進行斜射探傷用的探測頭，主要用在橫波探傷。斜探測頭由斜塊、壓電晶片、吸聲材料、外殼、插座等組成，斜探測頭的聲束與探測頭表層傾斜，因此可用在檢查直聲束無法到達的部位、或者缺陷的方向與檢查面之間存在夾角的區域。
C.超聲波探傷儀小徑管探測頭
單晶微型橫波斜探測頭，用在小直徑薄壁管焊接接頭的檢驗。檢查標準參照電力行業標準DL/T8202002《管道焊接接頭超聲波檢驗技術規程》，適合檢查管徑≥32mm、小于等于159mm，壁厚≥4mm、小于14mm的小直徑薄壁管；也可適用在其他行業類似管道的檢查。探測頭外形尺寸小,前沿距離≤5mm，始脈沖占寬≤1.5mm(相當于鋼中深度)，分辨力大于等于20dB。根據被檢查管道外徑的不同，檢查面被加工成對應管徑的弧度。
D.超聲波探傷儀表層波探測頭
用在發射和接收表層波的探測頭。表層波是沿部件表層傳播的波，幅值隨表層下的深度迅速減少，傳播速度是橫波的0.9倍，質點的振動軌跡為橢圓。表層波探測頭在被檢部件的表層
和近表層產生表層波。型號中列明的角度為有機玻璃斜塊的傾斜角(入射角)。
E.超聲波探傷儀可拆式斜探測頭
斜探測頭的一種特殊類型，將斜探測頭分成斜塊、探測頭芯兩個部分，使用時將兩者組合起來。常用的規格2.5P20的探測頭芯、不同K值的斜塊(1.0、1.5、2.0、2.5、3.0等等)。接受定制其他規格的可拆式斜探測頭。
F.超聲波非金屬檢查用探測頭
用在檢查非金屬材料，如混凝土、木材、巖石等。成對使用，一發一收，工作方式為透射式。鋁合金外殼，頻率從12.5KHz到250KHz，連接到探測頭線的插座為Q9。
G.超聲波探傷儀雙晶探測頭
裝有兩個晶片的探測頭，一個作為發射器，另一個作為接收器。又稱分割式探測頭、或者聯合雙探測頭。雙晶探測頭主要由插座、外殼、隔聲層、發射晶片、接收晶片、延遲塊等組成，使用垂直的縱波聲束掃查部件。相對直探測頭而言，雙晶直探測頭具有更好的近表層缺陷檢出能力；對于粗糙或者彎曲的檢查面，具有更好的耦合效果。
H.超聲波水浸式探測頭
用在半自動或者自動化探傷系統中。當探測頭發射的聲束軸線垂直于檢查面時，縱波直聲束掃查部件；調節探測頭聲束軸線與檢查面成一定的夾角，聲束在水和部件這兩種介質的界面折射，可在部件中產生傾斜的橫波聲束來掃查部件。將探測頭晶片前面的有機玻璃或者固化的環氧樹脂加工成一定弧度(球面或者圓柱面)，可得到點聚焦或者線聚焦的水浸式探測頭。
A.超聲波探傷儀直探測頭
進行垂直探傷用的單晶片探測頭，主要用在縱波探傷。直探測頭由插座、外殼、保護膜、壓電晶片、吸聲材料等組成，頭接觸面為可更換的軟膜，用在檢查表層粗糙的部件。
B.超聲波探傷儀斜探測頭
進行斜射探傷用的探測頭，主要用在橫波探傷。斜探測頭由斜塊、壓電晶片、吸聲材料、外殼、插座等組成，斜探測頭的聲束與探測頭表層傾斜，因此可用在檢查直聲束無法到達的部位、或者缺陷的方向與檢查面之間存在夾角的區域。
C.超聲波探傷儀小徑管探測頭
單晶微型橫波斜探測頭，用在小直徑薄壁管焊接接頭的檢驗。檢查標準參照電力行業標準DL/T8202002《管道焊接接頭超聲波檢驗技術規程》，適合檢查管徑≥32mm、小于等于159mm，壁厚≥4mm、小于14mm的小直徑薄壁管；也可適用在其他行業類似管道的檢查。探測頭外形尺寸小,前沿距離≤5mm，始脈沖占寬≤1.5mm(相當于鋼中深度)，分辨力大于等于20dB。根據被檢查管道外徑的不同，檢查面被加工成對應管徑的弧度。
D.超聲波探傷儀表層波探測頭
用在發射和接收表層波的探測頭。表層波是沿部件表層傳播的波，幅值隨表層下的深度迅速減少，傳播速度是橫波的0.9倍，質點的振動軌跡為橢圓。表層波探測頭在被檢部件的表層
和近表層產生表層波。型號中列明的角度為有機玻璃斜塊的傾斜角(入射角)。
E.超聲波探傷儀可拆式斜探測頭
斜探測頭的一種特殊類型，將斜探測頭分成斜塊、探測頭芯兩個部分，使用時將兩者組合起來。常用的規格2.5P20的探測頭芯、不同K值的斜塊(1.0、1.5、2.0、2.5、3.0等等)。接受定制其他規格的可拆式斜探測頭。
F.超聲波非金屬檢查用探測頭
用在檢查非金屬材料，如混凝土、木材、巖石等。成對使用，一發一收，工作方式為透射式。鋁合金外殼，頻率從12.5KHz到250KHz，連接到探測頭線的插座為Q9。
G.超聲波探傷儀雙晶探測頭
裝有兩個晶片的探測頭，一個作為發射器，另一個作為接收器。又稱分割式探測頭、或者聯合雙探測頭。雙晶探測頭主要由插座、外殼、隔聲層、發射晶片、接收晶片、延遲塊等組成，使用垂直的縱波聲束掃查部件。相對直探測頭而言，雙晶直探測頭具有更好的近表層缺陷檢出能力；對于粗糙或者彎曲的檢查面，具有更好的耦合效果。
H.超聲波水浸式探測頭
用在半自動或者自動化探傷系統中。當探測頭發射的聲束軸線垂直于檢查面時，縱波直聲束掃查部件；調節探測頭聲束軸線與檢查面成一定的夾角，聲束在水和部件這兩種介質的界面折射，可在部件中產生傾斜的橫波聲束來掃查部件。將探測頭晶片前面的有機玻璃或者固化的環氧樹脂加工成一定弧度(球面或者圓柱面)，可得到點聚焦或者線聚焦的水浸式探測頭。
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